• 多通道光譜檢測技術暨產品交流研討會（2008/04/11）

多通道光譜檢測技術具有高速、低成本、高精度等優點，量測中心自93年起歷經多年發展，與合作伙伴共同開發讓此成熟技術落實於產業，並已開發出多項運用於平面顯示器產業檢測機台，包含相位差檢測，液晶間隙檢測，彩色濾光片色度、膜厚檢測機，藉由邀請研究單位、使用者，以及製造商一起發表，期望能與各位一起分享成果，共同為國內自動光學檢測產業貢獻價值。

時間：97年04月11日(星期五) 上午09:30~12:30
聯絡人：工研院量測中心 金娟如小姐
TEL：(03)574-3816。
970411產品說明會DM.doc